DESCRIPCIÓN

La Microscopía Óptica, Electrónica (SEM, TEM) y de Fuerza Atómica (AFM) pueden emplearse para estudiar la microestructura, morfología, tamaños de partículas y presencia de defectos en los materiales a escala micrométrica y nanométrica.

EQUIPAMIENTO DISPONIBLE:

• Microscopio Óptico Karl Zeiss, modo reflexión, transmisión y polarización, con platina calefactora (Mettler)
• Microscopio Electrónico de Barrido SEM JEOL EVO 40-XVP acoplado con detector para Microanálisis Dispersivo de R-x (EDS)
• Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) Jeol 100CX
• Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) Nanoscope (Digital Instruments)

VENTAJAS

Además de las imágenes de alta resolución, estas técnicas analíticas pueden proporcionar información valiosa para actividades de I + D y el análisis de las fallas de los materiales.

APLICACIONES

Nanopartículas | Películas poliméricas delgadas y laminados multicapas | Recubrimientos | Compuestos y nanocompuestos | Huecos, grietas y defectos | Estructura cristalina